從而安全擴(kuò)展功率或電流的輸出能力，且并聯(lián)后，依然保持單機(jī)優(yōu)異的動(dòng)態(tài)特性。用戶(hù)可任意恒電壓CV或恒電流CC工作模式，安全擴(kuò)展輸出能力，從而滿足多種大功率高速測(cè)試下的需求。以下將會(huì)以瞬態(tài)響應(yīng)拉載波形為例說(shuō)明其工作方式，請(qǐng)參照下圖：?jiǎn)螜C(jī)IT6522C（80V120A3000W）設(shè)定電壓：10V，設(shè)定電流：120A動(dòng)態(tài)負(fù)載：LevelA=10ALevelB=100Af=10Hz1803092604.png8臺(tái)IT6522C并機(jī)設(shè)定電壓：10V，設(shè)定電流：960A動(dòng)態(tài)負(fù)載：LevelA=100ALevelB=800AF=10Hz結(jié)論：從上面的測(cè)試圖中可以看到，IT6500C系列電源在多臺(tái)并機(jī)后，仍能保持和單機(jī)波形一樣的動(dòng)態(tài)響應(yīng)波形，均達(dá)到高速無(wú)延遲的同步響應(yīng)。以下有四種產(chǎn)品簡(jiǎn)介：HN6000A四通道變頻抗干擾高壓介質(zhì)損耗測(cè)試儀  HN7033A自動(dòng)電容電流測(cè)試儀 HN6065接地引下線導(dǎo)通測(cè)試儀  HN7036A大型地網(wǎng)接地電阻測(cè)試儀
變頻介質(zhì)損耗測(cè)試儀

HN6000A四通道變頻抗干擾高壓介質(zhì)損耗測(cè)試儀 
   
   該儀器可用正、反接線方法測(cè)量不接地或直接地的高壓電器設(shè)備。可以測(cè)量電容式電壓互感器的tg及主電容C1、C2電容量。適用于電力行業(yè)中變壓器、互感器、套管、電容器、避雷器等設(shè)備的介損測(cè)量。變頻介質(zhì)損耗測(cè)試儀

抗干擾介損自動(dòng)測(cè)試儀技術(shù)參數(shù)
    1、準(zhǔn)確度：
    Cx: ±（讀數(shù)×1%+1pF）
    tg: ±（讀數(shù)×1%+0.00040）
    2、抗干擾指標(biāo)： 變頻抗干擾，在200%干擾下仍能達(dá)到上述準(zhǔn)確度
    3、電容量范圍：
    內(nèi)施高壓： 3pF～60000pF/10kV 60pF～1μF/0.5kV
    外施高壓： 3pF～1.5μF/10kV 60pF～30μF/0.5kV
    分辨率： 更高0.001pF，4位有效數(shù)字
    4、tg范圍： 不限，分辨率0.001%，電容、電感、電阻三種試品自動(dòng)識(shí)別。
    5、試驗(yàn)電流范圍：10μA～1A世界半導(dǎo)體工業(yè)界預(yù)測(cè)，這種進(jìn)步至少仍將持續(xù)10到15年。面對(duì)現(xiàn)有的晶體管模式及技術(shù)已經(jīng)臨近極限，借助芯片設(shè)計(jì)人員巨大的創(chuàng)造才能，使一個(gè)個(gè)看似不可逾越的難關(guān)化險(xiǎn)為夷，硅晶體管繼續(xù)著小型化的步伐。近期美國(guó)科學(xué)家的科技成果顯示，將10納米長(zhǎng)的圖案壓印在硅片上的時(shí)間為四百萬(wàn)分之一秒，把硅片上晶體管的密度提高了100倍，同時(shí)也大大提高了線生產(chǎn)的速度。這一成果將使電子產(chǎn)品繼續(xù)微小化，使摩爾定律繼續(xù)適用。
    6、內(nèi)施高壓： 
    設(shè)定電壓范圍：0.5～10kV
    輸出電流：200mA
    升降壓方式： 連續(xù)平滑調(diào)節(jié)
    試驗(yàn)頻率：
    45、50、55、60、65Hz單頻     
    45/55Hz、55/65Hz、47.5/52.5Hz自動(dòng)雙變頻
    頻率準(zhǔn)度： ±0.01Hz
    7、外施高壓：
    正接線時(shí)試驗(yàn)電流1A，工頻或變頻40-70Hz
    反接線時(shí)試驗(yàn)電流10kV/1A，工頻或變頻40-70Hz
    8、CVT自激法低壓輸出：輸出電壓3～50V，輸出電流3～30A

變頻介質(zhì)損耗測(cè)試儀其中人為的EMI干擾源，如雷達(dá)、導(dǎo)航、通信等設(shè)備的無(wú)線電發(fā)射信號(hào)，會(huì)在電源線上和電子設(shè)備的連接電纜上感應(yīng)出電磁干擾信號(hào)，電動(dòng)旋轉(zhuǎn)機(jī)械和點(diǎn)火系統(tǒng)，會(huì)在感性負(fù)載電路內(nèi)產(chǎn)生瞬態(tài)過(guò)程和輻射噪聲干擾；還有自然干擾源，比如雷電放電現(xiàn)象和宇宙中天電干擾噪聲，前者的持續(xù)時(shí)間短但能量很大，后者的頻率范圍很寬。另外電子電路元器件本身工作時(shí)也會(huì)產(chǎn)生熱噪聲等。這些電磁干擾噪聲，通過(guò)輻射和傳導(dǎo)耦合的方式，會(huì)影響在此環(huán)境中運(yùn)行的電子設(shè)備的正常工作。

HN7033A自動(dòng)電容電流測(cè)試儀

直接從PT的二次側(cè)測(cè)量配電網(wǎng)的電容電流，與傳統(tǒng)的測(cè)試方法相比，該儀器無(wú)需和一次側(cè)打交道，因而不存在試驗(yàn)的性，無(wú)需做繁雜的安措施和等待冗長(zhǎng)的調(diào)度命令，只需將測(cè)量線接于PT的開(kāi)口三角端就可以測(cè)量出電容電流的數(shù)據(jù)。使用低通濾波器(如RC濾波器)，或者使用共模扼流圈來(lái)過(guò)濾輸入信號(hào)，可以減少共模噪聲。重要的是，不對(duì)稱(chēng)衰減的共模噪聲會(huì)產(chǎn)生差模噪聲。在實(shí)際應(yīng)用中，不對(duì)稱(chēng)衰減的一個(gè)例子是低通濾波器;用一個(gè)電阻和電容實(shí)現(xiàn)截止頻率，但受元件容差影響，兩條線路中的截止頻率不一樣。第二種，也是麻煩的噪聲是差模噪聲，這種噪聲是在激勵(lì)與系統(tǒng)GND之間耦合的。該噪聲之所以會(huì)耦合到信號(hào)中，是因?yàn)橄到y(tǒng)GND與充當(dāng)天線的信號(hào)電纜之間存在電流環(huán)路。

自動(dòng)電容電流測(cè)試儀技術(shù)參數(shù)
    1、測(cè)量范圍：對(duì)地總電容 ≤120μF（三相對(duì)地）
       電容電流 ≤500A（35kv系統(tǒng)）
       電容電流 ≤200A（10kv系統(tǒng)）
    2、測(cè)量精度：0.5μF～5μF   ±10%±50個(gè)字
                 5μF～90μF    ±5%
                 90μF～120μF  ±10%ZDS2系列示波器標(biāo)配4Mpts的FFT，在1GSa/s的FFT等效采樣率下頻率分辨率仍能精細(xì)到25Hz，可準(zhǔn)確快速的分析信號(hào)干擾來(lái)源。數(shù)字濾波器功能。它是使用IIR或FIR數(shù)字濾波器，對(duì)被測(cè)信號(hào)進(jìn)行數(shù)字濾波。通過(guò)較少的計(jì)算量，可以使通帶內(nèi)具有很好的平坦度、阻帶內(nèi)有足夠的衰減和足夠小的阻帶紋波。ZDS224示波器標(biāo)配的IIR數(shù)字濾波功能可選擇高通或低通濾波，截止頻率可選擇1Hz到1MHz的寬調(diào)節(jié)范圍。

HN6065接地引下線導(dǎo)通測(cè)試儀