1、HNDL系列大電流發(fā)生器三相大電流試驗(yàn)裝置生產(chǎn)廠家
    

大電流試驗(yàn)設(shè)備按照使用一般分為以下幾種：

1、單相大電流發(fā)生器

2、三相大電流發(fā)生器

3、智能型全自動(dòng)大電流發(fā)生器

4、溫升大電流發(fā)生器  溫升試驗(yàn)設(shè)備  JP柜溫升試驗(yàn)裝置

5、直流大電流發(fā)生器

6、熔斷器大電流試驗(yàn)裝置
 充電準(zhǔn)備就緒測試：檢查供電設(shè)備是否能檢測到車輛準(zhǔn)備就緒并啟動(dòng)充電。啟動(dòng)及充電階段測試：在充電過程中，檢查供電設(shè)備是否能通過PWM信號占空比告知其可供電能力。正常充電結(jié)束測試：檢查供電設(shè)備在收到車輛停止充電指令時(shí)充電結(jié)束過程是否正常。充電連接控制時(shí)序測試本測試的目的是檢查供電設(shè)備充電連接控制狀態(tài)跳轉(zhuǎn)和時(shí)間間隔是否滿足要求。狀態(tài)轉(zhuǎn)換示意圖如下圖所示，充電時(shí)供電設(shè)備充電連接時(shí)序應(yīng)滿足GB/T18487.1-2015中A.4和A.5規(guī)定的要求。

1）基本型 可采用串并聯(lián)，主要于電力系統(tǒng)的一次母線保護(hù)和電流互感器變比等試驗(yàn)，也可以對電流繼電器及開關(guān)行程時(shí)間、過流速斷、傳動(dòng)等試驗(yàn)進(jìn)行整定。

2）集成型 集電流，時(shí)間，變比，極性于一體 為供電局，電廠現(xiàn)場測試。

3）瞬沖型  無需預(yù)調(diào)。（熔斷器測試儀）電流直接輸出額定值。對負(fù)載自適應(yīng)。用于熔斷器測試。

4）溫升型  用于開關(guān)柜，母線槽等電器的溫升試驗(yàn) 在精密測試測量行業(yè)，測量準(zhǔn)確度(精度)是儀器本身的靈魂，是儀器重要的指標(biāo)之一，但不同的儀器其準(zhǔn)確度有不同的表達(dá)方式，因此只有理解了儀器的精度指標(biāo)后才能更好地指導(dǎo)我們進(jìn)行測量。在測試測量過程中，受測量儀器硬件本身、測量條件或測量方法的影響，測量得到的結(jié)果(測量值)與真實(shí)值之間有一定的差異，這個(gè)差異就是測量誤差，測量誤差可能包含與測量值成比例的誤差，也可能包含與測量值無關(guān)的固定誤差。

功能特點(diǎn)：

1 采用進(jìn)口0.23鐵芯，電效率高鐵心無氣隙，疊裝系數(shù)可高達(dá)95％以上，鐵心磁導(dǎo)率可取1.5～1.8T（疊片式鐵心只能取1.2～1.4T），電效率高達(dá)95％以上，空載電流只有疊片式的10％。

2  采用環(huán)形設(shè)計(jì)。體積小重量輕，環(huán)形變壓器比疊片式變壓器重量可以減輕一半.

　3 磁干擾較小環(huán)形變壓器鐵心沒有氣隙，繞組均勻地繞在環(huán)形的鐵心上，這種結(jié)構(gòu)導(dǎo)致了漏磁小，電磁輻射也小，無需另加屏蔽都可以用到高靈敏度高準(zhǔn)度的電子設(shè)備上采用  但由于-85至-115dBm的范圍高于背景噪聲水平，GPS信號對于GPS接收器始終可見，因此測得的C/NOdBHz水平對于滑塊衰減幾乎沒有關(guān)聯(lián)性。降低LabSatRF水平就會(huì)發(fā)現(xiàn)C/NO存在一定程度的下降，但并非線性下降。為LabSat添加40dB外部衰減，會(huì)將RF功率降至大約-125dBm至-155dBm的范圍。該范圍與GPS天線在戶外接受的RF水平一致，并低于背景噪聲水平。以此方式降低信號后，就可對C/NO實(shí)現(xiàn)更充分的線性控制。

4  采用0.2級數(shù)字式真有效值電流表顯示，準(zhǔn)度高。而且無需外附標(biāo)準(zhǔn)CT及其他附件，簡潔直觀。  

5 采用0.2S級高準(zhǔn)度電流互感器，保證電流信號的線性度和高準(zhǔn)度輸出.

6 內(nèi)置高準(zhǔn)度毫秒計(jì)。滿足時(shí)間高準(zhǔn)度測試的需要。           

雙串口高速透明傳輸不丟幀WM622擁有兩路全透明傳輸串口，用戶可將自己產(chǎn)品的串口資源快速拓展成無線連接，相當(dāng)于建立了一段無形的串行傳輸線，串口速率可高達(dá)1Mbps。透明傳輸?shù)膬?yōu)勢在于，用戶可以在這基礎(chǔ)上，創(chuàng)建自己需要的協(xié)議格式，使用戶不局限于固定使用第三方協(xié)議。*的通信距離和穿墻能力模塊針對復(fù)雜的工業(yè)環(huán)境設(shè)計(jì)，天線的匹配設(shè)計(jì)均經(jīng)過嚴(yán)格的測試驗(yàn)證，信號質(zhì)量得到的優(yōu)化，有效加強(qiáng)信號的強(qiáng)度及穿透力，多重保障讓聯(lián)網(wǎng)設(shè)備信號無阻，體驗(yàn)信號滿格。技術(shù)參數(shù)：                        

輸入電源：AC 220V /380V  50HZ             

電流輸出：0－ 1000A        準(zhǔn)度：0.5或0.2  分辨率：0.01A

電流輸出：1000－ 5000A     準(zhǔn)度：0.5或0.2  分辨率：0.1A

電流輸出：5000－ 10000A    準(zhǔn)度：0.5 或0.2 分辨率：1A

電流輸出：10000－50000A    準(zhǔn)度：0.5 或0.2 分辨率：1A

輸出端開口電壓：≥6V

時(shí)間測試：0.001S－9999.999S  分辨率：0.001S

三相大電流試驗(yàn)裝置生產(chǎn)廠家傳統(tǒng)上，示波器的頻率響應(yīng)是高斯型的，從它的BNC輸入端至CRT顯示，有很多模擬放大器構(gòu)成一個(gè)放大器鏈。但當(dāng)代高性能數(shù)字示波器普遍采用平坦頻率響應(yīng)。數(shù)字示波器中和高斯頻響有關(guān)的只是很少的幾個(gè)模擬放大器，并可用DSP技術(shù)優(yōu)化其對精度的影響。對于數(shù)字示波器來說，要盡量避免采樣混疊誤差，而模擬示波器不存在這種問題。與高斯頻響相比，平坦型頻率響應(yīng)能減少采樣混疊誤差。本文回顧高斯響應(yīng)和平坦響應(yīng)的特性，然后討論這兩種響應(yīng)類型所對應(yīng)的上升時(shí)間測量精度，從而說明具有平坦頻率響應(yīng)的示波器與具有同樣帶寬的高斯響應(yīng)示波器相比，有更高的上升時(shí)間測量精度。LED研發(fā)一LED光源半導(dǎo)體芯片發(fā)熱利用熱像儀，工程師可以根據(jù)得到的光源半導(dǎo)體芯片發(fā)熱紅外熱圖，分析出其芯片在工作時(shí)的溫度，以及溫度的分布情況，在此基礎(chǔ)，達(dá)到提高LED產(chǎn)品壽命的目的。二LED模塊驅(qū)動(dòng)電路在LED產(chǎn)品研發(fā)中，需要工程師進(jìn)行一部分驅(qū)動(dòng)電路設(shè)計(jì)，整流器電路模塊。利用紅外熱像儀，工程師可以迅速而便捷地發(fā)現(xiàn)電路上溫度異常之處，便于完善電路設(shè)計(jì)。三光衰試驗(yàn)LED產(chǎn)品的光衰就是光在傳輸中的信號減弱，而現(xiàn)階段的LED大廠們做出的LED產(chǎn)品光衰程度都不相同，大功率LED同樣存在光衰，這和溫度有著直接的關(guān)系，主要是由晶片、熒光粉和封裝技術(shù)決定的。